京大、量子コンピュータの誤り耐性を実証する新手法を開発
京大、量子コンピュータ誤り耐性の新手法を開発

京都大学の研究チームは、量子コンピュータの誤り耐性を実証する新しい手法を開発したと発表した。この手法により、量子ビット(キュービット)のエラー率を従来比で10倍以上低減できることが確認された。

新手法の概要

研究チームは、量子誤り訂正符号の一種である「表面符号」を用いて、複数の量子ビットに同時に発生するエラーを効率的に検出・訂正する方法を考案した。従来の手法では、エラーの検出に多くの量子ビットを必要としていたが、新手法では必要な量子ビット数を約3分の1に削減できる。

実証実験の結果

研究チームは、超伝導量子ビットを用いた実証実験で、新手法の有効性を確認した。実験では、論理量子ビットのエラー率が10万分の1以下になることを実証。これは、従来の手法と比較して10倍以上の改善となる。

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京都大学の山田教授は、「この成果は、実用的な量子コンピュータの実現に向けた重要な一歩だ」とコメントしている。

今後の展望

研究チームは、今後さらに大規模な量子コンピュータでの実証を目指す。また、この技術を他の量子ビット方式にも適用可能か検討する。量子コンピュータの誤り耐性は、実用化に向けた最大の課題の一つであり、今回の成果はその克服に貢献するものと期待される。

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